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高斯計是一種常用的磁場測量儀器，它可以測量磁性材料或物體表面的磁場強度，通常以高斯（Gs）為單位。然而，高斯計存在一些局限性，例如它的測量結果受到探頭位置、探頭芯片的厚度和位置等因素的影響，而且由于磁體表面磁場的不均勻性，高斯計的測量結果可能會有很大偏差。此外，不同廠家生產的高斯計可能存在測量值不一致的問題。

相比之下，磁通計則是通過測量磁體的整體平均值來反映磁體的整體性能。它利用電子積分原理，通過線圈檢測磁性材料或物體的整體性能，單位通常是韋伯（Wb）。磁通計的優(yōu)點在于它可以提供更加穩(wěn)定和可比的測量結果，因為它是測量整個磁體的磁通量，而不是單一測試點的磁場強度。這樣，即使磁體表面的磁場分布不均勻，磁通計也能給出一個代表磁體整體性能的平均值